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规格：
Leeb硬度测试仪的一部分 | ||
项目名称 | 类型 | |
影响神经 | D / DC | |
C | ||
D+15 | ||
G | ||
DL | ||
DR（5-20mm） | ||
SDC（简短类型） | ||
400℃ | ||
加载 - 未加载一个时间过程类型 | ||
撞击身体 | D / DC | |
C | ||
G | ||
DL | ||
球头 | 3mm（对于D; DC; C; DL; D+15） | |
5mm（用于G） | ||
冲击设备线 | LHM | |
支撑戒指 | SR（12件） | |
规格：
Leeb硬度测试仪的一部分 | ||
项目名称 | 类型 | |
影响神经 | D / DC | |
C | ||
D+15 | ||
G | ||
DL | ||
DR（5-20mm） | ||
SDC（简短类型） | ||
400℃ | ||
加载 - 未加载一个时间过程类型 | ||
撞击身体 | D / DC | |
C | ||
G | ||
DL | ||
球头 | 3mm（对于D; DC; C; DL; D+15） | |
5mm（用于G） | ||
冲击设备线 | LHM | |
支撑戒指 | SR（12件） | |
